TY  - BOOK
AU  - Pecharsky,Vitalij K.
AU  - Zavalij,Peter Y.
TI  - Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials
SN  - 978038709573
AV  - QC482.D5 P43 2009
U1  - 548/.83 22
PY  - 2009///
CY  - New York, New York
PB  - Springer Verlag
KW  - Rayos X
KW  - Difracción
KW  - Medición
KW  - Polvos
KW  - Propiedades ópticas
KW  - Cristalografía por rayos X
ER  -