TY - BOOK AU - Bhushan,Bharat AU - Fuchs,H. TI - Applied scanning probe methods XII: characterization T2 - Nanoscience and technology SN - 9783540850380 (encuadernado) AV - TA417.23 A68 PY - 2009/// CY - Berlin PB - Springer Verlag KW - Microscopia exploradora de sondas KW - MicroscopĂ­a exploradora de sondas KW - Aplicaciones industriales KW - Materiales KW - MicroscopĂ­a ER -