TY  - BOOK
AU  - Lee,Myeongkyu
TI  - X-ray diffraction for materials research: from fundamentals to applications 
SN  - 9781771882989 (encuadernado en tela : papel alcalino)
AV  - QC482.D5 L44
U1  - 620.1/1272 23
PY  - 2016///]
CY  - Oakville, Ontario
PB  - Apple Academic Press
KW  - Rayos X
KW  - Difracción
KW  - Materiales
KW  - Investigación
ER  -