Vazquez Curiel, Evangelina <br/><br/>
Efectos de la relajacion de la superficie en las propiedades electronica del silicio poroso. 

 - Mexico :  El autor,  2000. 
 - 101 p. :  il. 
<br/><br/>Tesis Maestria (Maestria en ciencias-Ciencia de Materiales)-UNAM, Instituto de Investigaciones en Materiales