Garcia Chavarria, Sabit Karina <br/><br/>
Caracterizacion morfologica de peliculas de GaAs(N) por microscopia de fuerza atomica 

 - Mexico :  El autor,  2004 
 - 69 p. :  il. 
<br/><br/>Tesis Maestria (Maestro en Ciencia e Ingenieria de Materiales)-UNAM, Posgrado en Ciencia e Ingenieria de Materiales