TY  - BOOK
AU  - Garcia Chavarria, Sabit Karina
AU  - Alvarez Fregoso, Octavio,
ED  - Universidad Nacional Autonoma de Mexico.
TI  - Caracterizacion morfologica de peliculas de GaAs(N) por microscopia de fuerza atomica
PY  - 2004///
CY  - Mexico
PB  - El autor
N1  - Tesis Maestria (Maestro en Ciencia e Ingenieria de Materiales)-UNAM, Posgrado en Ciencia e Ingenieria de Materiales
ER  -