Diaz Bucio, Xochitl Monica <br/><br/>
Analisis de la estructura y composicion de peliculas delgadas de SiOF mediante FTIR, XPS y RNR. 

 - Mexico :  El autor,  2007. 
 - 89 p. :  il. 
<br/><br/>Tesis Maestria (Maestria en Ciencia e Ingenieria de Materiales)-UNAM, Posgrado en Ciencia e Ingenieria de Materiales