Garcia Rivera, Jose <br/><br/>
Caracterizacion termica y termoelectronica de obleas de silicio implantado con boro mediante radiometria de fotoportadores. 

 - Mexico :  El autor,  2007. 
 - 148 p. :  il. 
<br/><br/>Tesis Maestria (Maestro en Ciencia e Ingenieria de Materiales)-UNAM, Posgrado en Ciencia e Ingenieria de Materiales