TY  - BOOK
AU  - Zevin, Lev S.,
AU  - Kimmel, Giora
AU  - Mureinik, Inez
TI  - Quantitative X-ray diffractometry
SN  - 0387945415
AV  - QC482.D5 Z48
PY  - 1995///
CY  - New York
PB  - Springer Verlag
KW  - Rayos X
KW  - Difracción
KW  - Difraccion
KW  - Aplicaciones industriales
ER  -