Electromigration and electronic device degradation / 
 Electromigration & electronic device degradation 
edited by Aris Christou 
 - xiv, 343 páginas :  ilustraciones ; 
<br/><br/> Titulo del lomo: Electromigration & electronic device degradation 
<br/><br/>Incluye referencias bibliograficas e indices. 
<br/><br/><label>ISBN: </label>0471584894 (encuadernado en tela : papel alcalino) 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Circuitos integrados--Deterioro<br/>Semiconductores--Fallas<br/>Electrodifusión
<br/><br/><label>LC Class. No.: </label>TK7874  / E537 
<br/><br/><label>Dewey Class. No.: </label>621.3815