TY  - BOOK
AU  - Christou,A.
TI  - Electromigration and electronic device degradation
SN  - 0471584894 (encuadernado en tela : papel alcalino)
AV  - TK7874 E537
U1  - 621.3815 20
PY  - 1994///
CY  - New York
PB  - Wiley
KW  - Circuitos integrados
KW  - Deterioro
KW  - Semiconductores
KW  - Fallas
KW  - Electrodifusión
N1  - Titulo del lomo: Electromigration & electronic device degradation; Incluye referencias bibliograficas e indices
ER  -