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		Particle beam microanalysis : Fundamentals, methods and applications / E. fuchs, h. oppolzer, h. rehme por Fuchs, Ekkehard [autor] \| Oppolzer, Helmut [autor] \| Rehme, H [autor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Weinheim : Vch, c1990Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23/F83. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		The Quekett journal of microscopy Título de la Revista: The Quekett journal of microscopy por Quekett Microscopical Club (Londres). Tipo de material: Recurso continuo; Formato: impresión grande ; Tipo de descriptor de recurso continuo: periódico Idioma: Inglés Editor: London : Quekett Microscopical Club, 1993-Otro título: QJM (London).Disponibilidad: No disponible para préstamo a domicilio:Revistas: Préstamo en sala (6). Agregar al carrito (remover)
		The role of microscopy in semiconductor failure analysis / B. p. richards and p. k. footner por Richards, B. P [autor] \| Footner, P. K [autor] \| University of Oxford. Series Microscopy handbooks ; 25Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Oxford : Oxford University Press, 1992Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7871.85/S34. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Scanning and transmission electron microscopy : an introduction / Stanley L. Flegler, John W. Heckman, Jr., Karen L. Klomparens por Flegler, Stanley L [autor] \| Heckman, John William [autor] \| Klomparens, Karen L [autor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : W. H. Freeman, c1993Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.S3/F54. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Scanning electron microscopy : physics of imagen formation and microanalysis / Ludwing Reimer por Reimer, Ludwig, 1928- [autor]. Series Springer series in optical sciences ; 45Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Berlin : Springer Verlag, c1985Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.S3/R45 Vol. 45. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis : a text for biologists, materials scientists, and geologists / Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy, A. D. Romig, Charles E. Lyman, Charles Fiori, Eric Lifshin por Goldstein, Joseph, nacimiento 1939 [autor]. Edición: 2nd ed.Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Plenum, c1992Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E9/S22 1992. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Scanning electron microscopy in taxonomy y and functional morphology / Ed. by d. claugher por Claugher, D [editor] \| Systematics Association. Series The systematics association special volume ; 41Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Oxford : Published for the systematics association by clarendon, 1990Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH83/S355. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Secondary electron energy spectroscopy in the scanning electron microscope / Anjam Khursheed por Khursheed, Anjam [autor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Singapore : World Scientific Publishing, [2021]Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.S3/K486. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Thin fosil preparation for electron microscopy / P. J. Goodhew ; edited by Audrey M. Glavert por Goodhem, P. J [autor] \| Glavert, Audrey M [editor]. Series Practical methods in electron microscophy ; 11Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Amsterdam : Elsevier, 1985Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4/G67. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		The use of the scanning electron microscope / By j.w.s. hearle, j.t. sparrow and p.m. cross. por Hearle, J. W. S [autor] \| Sparrow, J.t. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Oxford : Pergamon Press, 1972Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.S3/H43. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		X-ray optics and microanalysis, 1992 : Proceedings of the thirteenth international congress, umist, manchester, uk, 31 august-4 september 1992 / Ed. p.b. kenway ... [y otros.] por Kenway, P.b [editor]. Series Institute of Physics conference series ; 130Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Bristol Institute of physics, [england] ; philadelphia : c1993Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23/X73. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)

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