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Physical properties of liquid crystals : nematics / edited by David Dunmur, Atsuo Fukuda and Geoffrey Luckhurst

por Luckhurst, Geoffrey [editor] | Fukuda, Atsuo, 1952- [editor] | Dunmur, David A [editor].

Series EMIS datareviews series ; 25Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: London : INSPEC : Institution of Electrical Engineers, c2001Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QD923/P495 VOL. 25.

Process technology for silicon carbide devices / edited by Carl-Mikael Zetterling

por Zetterling, Carl-Mikael [editor].

Series EMIS processing series ; no. 2Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: London, United Kingdom : Institution of Electrical Engineers : INSPEC, c2002Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TP261.C3/P76.

Properties and growth of diamond / ed. by Gordon Davies

por Davies, Gordon C [editor] | INSPEC (Servicio de Informacion) | Institution of Electrical Engineers.

Series EMIS datareviews series ; 9Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: London : INSPEC ; Institution of Electrical Engineers, c1994Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QE393/P75 Vol. 9.

Properties, growth and applications of diamond / edited by M. H. Nazare and A. J. Neves

por Nazare, Maria Helena [editor] | Neves, A. J [editor].

Series EMIS datareviews series ; 26Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: London : Institution of Electrical Engineers : INSPEC, c2001Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7871.15.D53/P76 Vol. 26.

Properties of amorphous silicon

por Institution of Electrical Engineers.

Series EMIS datareviews series ; 1Edición: 2Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: London : Inspec, institution of electrical engineers, c1989Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QD181.S6/P76 1989 VOL. 1.

Properties of group III nitrides / ed. by James H. Edgar

por Edgar, James H [editor] | Institution of Electrical Engineers.

Series EMIS datareviews series ; 11Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: London : Inspec : Institution of Electrical Engineers, c1994Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QD181.N1/P76 VOL. 11.

Properties of III-V quantum wells and superlattices / ed. by Pallab Bhattacharya

por Bhattacharya, Pallab [editor] | Institution of Electrical Engineers.

Series Emis datareviews series ; 15Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: London : INSPEC, Institution of Electrical Engineers, c1996Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA1750/P76 VOL. 15.

Properties of lattice-matched and strained indium gallium arsenide / ed. by Pallab Bhattacharya

por Bhattacharya, Pallab [editor] | INSPEC (Servicio de Informacion) | Institution of Electrical Engineers.

Series EMIS datareviews series ; 8Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: London : INSPEC, Institution of Electrical Engineers, c1993Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC611.8.G3/P76 Vol. 8.

Properties of metal silicides / ed. by Karen Maex and Marc Van Rossum

por Maex, Karen [editor] | Rossum, Marc Van [editor] | Institution of Electrical Engineers.

Series EMIS datareviews series ; 14Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: London : Institution of Electrical Engineers : Inspec, c1995Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7871.15.S54/P76 Vol. 14.

Properties of narrow gap cadmium based compounds / ed. by Peter Capper

por Capper, Peter [editor] | Institution of Electrical Engineers.

Series EMIS datareviews series ; 10Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: London : Institution of Electrical Engineers, c1994Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC611.8.C34/P76 Vol. 10.

Properties of porous silicon / ed. by Leigh Canham

por Canham, Leigh T [editor] | Institution of Electrical Engineers | INSPEC (Servicio de Informacion).

Series EMIS datareviews series ; 18Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: London : Institution of Electrical Engineers : INSPEC, c1997Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC611.8.S5/P766 Vol. 18.

Properties of silicon carbide / ed. by Gary L. Harris

por Harris, Gary Lynn, nacimiento 1953 [editor] | Institution of Electrical Engineers.

Series EMIS datareviews series ; 13Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: London : Inspec : Institution of Electrical Engineers, c1995Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: TA418.26/P76 Vol. 13, ...

Properties of silicon germanium and SiGe : carbon / ed. by Erich Kasper and Klara Lyutovich

por Kasper, Erich [editor] | Lyutovich, Klara [editor].

Series EMIS datareviews series ; 24Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: London : INSPEC, The Institution of Electrical Engineers, 2000 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC611.8.S5/P77 Vol. 24.

Properties, processing and applications of gallium nitride and related semiconductors / edited by James H. Edgar ... [y otros.]

por Edgar, James H [editor].

Series EMIS datareviews series ; 23Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: London : INSPEC : Institution of Electrical Engineers, c1999Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7871.15G33/P76 Vol. 23.

Properties, processing and applications of indium phosphide

por Pearsall [autor] | Institution of Electrical Engineers.

Series EMIS datareviews series ; 21Tipo de material: Texto Texto Idioma: ENG Editor: London Institution of Electrical Engineers 1999Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC611.8.I53/P43 Vol. 21.

Strained silicon heterostructures : materials and devices / edited by C.K. Maiti, N.B. Chakrabarti and S.K. Ray

por Maiti, C. K [autor] | Chakrabarti, N. B [editor] | Ray, S. K [editor].

Series IEE circuits, devices and systems series ; 12Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: London : Institution of Electrical Engineers, c2001Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC611.8.S5/S77.

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