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Nanometer technology designs : high-quality delay tests / Mohammad Tehranipoor, Nisar Ahmed
Tipo de material:
TextoEditor: New York, New York : Springer Verlag, c2008Descripción: xvii, 281 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 9780387764863; 0387764860Tema(s): Circuitos integrados -- Pruebas | Circuitos integrados en muy gran escala | NanotecnologíaClasificación LoC:TK7874 | T433Otra clasificación: General
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | General | TK7874/T433 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 19011 |
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