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Industrial applications of X-ray diffraction / ed. by Frank H. Chung, Deane K. Smith
Tipo de material:
TextoIdioma: SPA Editor: New York : M. Dekker, c2000Descripción: xiv, 1006 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0824719921Tema(s): Radiografía industrial | Rayos X -- DifracciónClasificación LoC:TA417.25 | I53Otra clasificación: General
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | General | TA417.25/I53 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 14537 |
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