Saltar al contenido principal
Instituto de Investigaciones en Materiales - UNAM
Su carrito está vacío
Carrito
Listas
Sus listas
Ingrese para crear sus propias listas
Historial de búsqueda
Limpiar
Universidad Nacional Autónoma de México
Instituto de Investigaciones en Materiales
Catálogo de la Biblioteca
Buscar
Todos los campos
Título
Autor
Tema
ISBN
ISSN
Series
Clasificación
Todas las colecciones
Artículos
Libros
Revistas
Tesis
Ir
Búsqueda avanzada
Nube de etiquetas
Sugerencias de compra
Colecciones
Ingresar a su cuenta
×
Usuario:
Contraseña:
Si aún no tiene usuario y contraseña, vaya al mostrador de circulación la próxima vez que esté en la biblioteca.
¿Olvidó su contraseña?
Inicio
Resultados de la búsqueda para 'au:"Edington, Jeffrey William,"'
Refinar su búsqueda
Disponibilidad
Limitar a ítems actualmente disponibles
Autores
Edington, Jeffrey Wi...
(4)
Colecciones
General
(4)
Bibliotecas depositarias
Libros
(4)
Tipos de ítem
Libros
(4)
Ubicaciones
Libros
(4)
Series
7302 ; 1
(1)
Philips technical li...
(1)
Philips technical li...
(1)
Tópicos
Cristalografía
(1)
Microscopios electró...
(1)
Microscopía electrón...
(3)
Su búsqueda recuperó 4 resultados.
Ordenar
Ordenar por:
Relevancia
Popularidad (mayor a menor)
Popularidad (menor a mayor)
Autor (A-Z)
Autor (Z-A)
Clasificación (0-9 a A-Z)
Clasificación (Z-A a 9-0)
Publicación/Fecha de Copyright: Nuevos a viejos
Publicación/Fecha de Copyright: Viejos a nuevos
Fecha de adquisición: Nuevos a viejos
Fecha de adquisición: Viejos a nuevos
Título (A-Z)
Título (Z-A)
De-resaltar
Resaltar
Seleccionar todo
Limpiar todo
Seleccionar títulos para:
Agregar a...
Carrito
[ Nueva lista ]
Reservar
Resultados
Electron diffraction in the electron microscope.
por
Edington, Jeffrey William
[autor]
.
Series
Philips technical library. monographs in practical electron microscopy in materials science
; 2
Tipo de material:
Texto
; Formato:
impreso
; Forma literaria:
No es ficción
Editor:
London : Macmillan, 1975
Disponibilidad:
Ítems disponibles para préstamo:
Libros
(1)
Clasificación:
QH212.E4/E34 Vol. 2
.
Hacer reserva
Agregar al carrito
(remover)
Interpretation of transmission electron micrographs /
J. w. edington
por
Edington, Jeffrey William
[autor]
.
Series
Philips technical library
; 3
Tipo de material:
Texto
; Formato:
impreso
; Forma literaria:
No es ficción
Editor:
London : Macmillan, 1975
Disponibilidad:
Ítems disponibles para préstamo:
Libros
(1)
Clasificación:
QH212.E4/E35 Vol. 3
.
Hacer reserva
Agregar al carrito
(remover)
The operation and calibration of the electron microscope /
J. W. Edington
por
Edington, Jeffrey William
[autor]
.
Series
7302 ; 1
Tipo de material:
Texto
; Formato:
impreso
; Forma literaria:
No es ficción
Editor:
London : Macmillan, c1974
Disponibilidad:
Ítems disponibles para préstamo:
Libros
(1)
Clasificación:
QH212.E4/E36 Vol. 1
.
Hacer reserva
Agregar al carrito
(remover)
Practical electron microscopy in materials science /
J. W. Edington
por
Edington, Jeffrey William
[autor]
.
Tipo de material:
Texto
; Formato:
impreso
; Forma literaria:
No es ficción
Idioma:
SPA
Editor:
Herndon, Virginia : Techbooks, c1976
Disponibilidad:
Ítems disponibles para préstamo:
Libros
(1)
Clasificación:
QD906.7.E37/E45
.
Hacer reserva
Agregar al carrito
(remover)
Páginas
¿No encuentras lo que estás buscando?
Hacer una
sugerencia de compra
Universidad Nacional Autónoma de México
Biblioteca del Instituto de Investigaciones en Materiales
©2023 Dirección General de Bibliotecas y Servicios Digitales de Información, UNAM
Aviso de Privacidad