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Characterization and metrology for ULSI technology : 2003 International Conference on Characterization and Metrology for ULSI Technology, Austin, Texas, 24-28 March 2003 / editors, David G. Seiler ... [y otros.]
Tipo de material:
TextoSeries AIP conference proceedings ; 683Editor: Melville, New York : American Institute of Physics, 2003Descripción: 819 páginas : ilustraciones + 1 disco optico laser para computadoraTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0735401527Tema(s): Circuitos integrados -- Ultra integración a gran escala -- Congresos | Circuitos integrados -- Ultra integración a gran escala -- Software -- CongresosClasificación LoC:TK7874.76 | C43 2003Otra clasificación: Serie
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Series | TK7874.76/C43 2003 Vol. 683 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 17560 |
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