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Materials analysis ion channeling : Submicron crystallography / Leonard c. feldman, James w. mayer s.
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TextoEditor: New York : Academic, 1982Descripción: 300 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0122526805Tema(s): Fasces ionicas | Cristalografía | Cristales -- Defectos | Sólidos -- Superficies | Canalización (Física)Clasificación LoC:QC176.8C45 | F44Otra clasificación: General
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | General | QC176.8.C45/F44 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 4837 |
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