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		Characterization and metrology for ULSI technology : 2003 International Conference on Characterization and Metrology for ULSI Technology, Austin, Texas, 24-28 March 2003 / editors, David G. Seiler ... [y otros.] por Seiler, David G [editor] \| International Conference on Characterization and Metrology for ULSI Technology (2003 : Austin, Texas). Series AIP conference proceedings ; 683Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Melville, New York : American Institute of Physics, 2003Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7874.76/C43 2003 Vol. 683. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		The spectroscopy of semiconductors / Eds. David g. seiler, christopher l. littler por Seiler, David G [editor] \| Littler, Christopher L [editor]. Series Semiconductors and semimetals ; 36Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Boston : Academic, 1992Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC610.9 S64 Vol.36. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)

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