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High resolution electron microscopy of defects in materials : Symposium held april 16-18, 1990, san francisco, california, u.s.a. / Ed. Robert Sinclair, David j. Smith, ulrich dahmen
Tipo de material:
TextoSeries Materials research society symposium proceedings ; 183Editor: Pittsburgh, pennsylvania : Materials research society, c1990Descripción: Xi, 391 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 1558990720Tema(s): Materiales -- Microscopia -- Congresos | Materiales -- Defectos -- Congresos | Microscopía electrónica -- CongresosClasificación LoC:TA417.23 | H54Otra clasificación: Serie
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Series | TA417.23/H54 VOL. 183 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 5834 |
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