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Reliability and degradation of III-V optical devices / Osamu Ueda
Tipo de material:
TextoIdioma: ENG Editor: Boston : Artech House, 1996Descripción: 352 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0890066523 (papel alcalino)Tema(s): Semiconductores de arseniuro de galio -- Confiabilidad | Semiconductores -- Fallas | Diodos emisores de luz -- Confiabilidad | Cristales -- DefectosClasificación CDD: 621.36/93 Clasificación LoC:TK7871.85 | U43 1996Otra clasificación: General
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | General | TK7871.85/U43 1996 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 11243 |
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