Micro-Raman characterization of WO/ sub 3/ and MoO/ sub 3/ thin films obtained by pulsed laser irradiation.
Título de la Revista: Applied Surface ScienceTipo de material: TextoIdioma: SPA Detalles de publicación: 1998. Descripción: Vol. 127-129, pp. 674-678Tema(s): Pulsed laser irradiation | Raman microscopy | Thin filmsRecursos en línea: Acceso texto completoTipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Artículos | Artículos Artículos | General | 1 | Préstamo en sala | PIM-266 |
Total de reservas: 0
Articulo
No hay comentarios en este titulo.