Quantitative X-ray diffractometry / Lev S. Zevin, Giora Kimmel ; ed. by Inez Mureinik
Tipo de material: TextoEditor: New York : Springer Verlag, 1995Descripción: 365 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0387945415Tema(s): Rayos X -- Difracción | Rayos X -- Difraccion -- Aplicaciones industrialesClasificación LoC:QC482.D5 | Z48Otra clasificación: General y ReservaTipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros | Libros Libros | General | QC482.D5/Z48 Ej. 2 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 10814 | ||
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