Universidad Nacional Autónoma de México
Instituto de Investigaciones en Materiales
Catálogo de la Biblioteca

Refinar su búsqueda

Su búsqueda recuperó 2 resultados.

Ordenar
Resultados
Intrinsic point defects, impurities, and their diffusion in silicon / Peter Pichler

por Pichler, Peter [autor].

Series Computational microelectronicsTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Wien : Springer Verlag, c2004Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7871.15.S55/P53.

Modelling of interface carrier transport for device simulation / Dietmar Schroeder

por Schroeder, Dietmar, 1954- [autor].

Series Computational microelectronicsTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Vienna : Springer Verlag, 1994Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7871.85/S35 1994.

Páginas
¿No encuentras lo que estás buscando?

Universidad Nacional Autónoma de México 

Biblioteca del Instituto de Investigaciones en Materiales

©2023 Dirección General de Bibliotecas y Servicios Digitales de Información, UNAM

Aviso de Privacidad