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		Electromigration and electronic device degradation / edited by Aris Christou por Christou, A [editor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: New York : Wiley, c1994Otro título: Electromigration & electronic device degradation.Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7874/E537. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Materials reliability in microelectronics III/ ed. Kenneth P. Rodbell ... [y otros.] por Roedbell, Kenneth P [editor] \| Materials Research Society. Series Materials research society symposium proceedings ; 309Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Pittsburg, Pennsylvania : Materials Research Society, c1993Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7874/M369 1993 VOL. 309. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Materials reliability in microelectronics IV / ed. Peter Borgesen ... [y otros.] por Borgesen, Peter [editor] \| Materials Research Society. Series Materials research society symposium proceedings ; 338Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Pittsburgh, Pennsylvania : Materials Research Society, 1994Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7874/M369 1994 VOL. 338. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Materials reliability in microelectronics V / ed. Anthony S. Oates... [y otros.] por Oates, Anthony S [editor] \| Materials Research Society. Series Materials research society symposium proceedings ; 391Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Pittsburgh, Pennsylvania : Materials Research Society, c1995Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7874/M369 1995 Vol. 391. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)

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