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Analysis of microelectronic materials and devices / Ed. by m. grasserbauer, h. w. werner

por Grasserbauer, M [editor] | Werner, H. W [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Chichester : J. Wiley, c1991Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7871/A53.

Chemical mechanical planarization of microelectronic materials / Joseph M. Steigerwald, Shyam P. Murarka, Ronald J. Gutmann

por Steigerwald, Joseph M [autor] | Murarka, Shyam P [autor] | Gutmann, Ronald J [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: New York : J. Wiley, c1997Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7871/S77 1997.

Communications presentees au colloque international sur la microelectronique avancee, paris, 6-10 avril 1970.

por Colloque international sur la microelectronique avancee (1970) | Union of International Engineering Organizations | Societe Francaise Des Electroniciens Et De Radicelectriciens.

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Paris : Chiron, 1970Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: TK7874/C64 1970 Vol. 1, ...

Copper-fundamental mechanisms for microelectronic applications / Shyam P. Murarka, Igor V. Verner, Roland J. Gutmann

por Murarka, Shyam P [autor] | Verner, Igor V [autor] | Gutmann, Ronald J [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: New York : J. Wiley, c2000Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7871.85/M87.

Defect-interface interactions : Symposium held November 29-December 2, 1993, Boston, Massachusetts, U. S. A. / eds. Eric P. Kvam ...[y otros.]

por Kvam, Eric P [editor] | Materials Research Society.

Series Materials research society symposium proceedings ; 319Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Pittsburgh, Pennsylvannia : Materials Research Society, c1994Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA418.7/D44 VOL. 319.

Defects in microelectronic materials and devices / edited by Daniel M. Fleetwood, Sokrates T. Pantelides, Ronald D. Schrimpf

por Fleetwood, D. M [editor] | Pantelides, Sokrates T [editor] | Schrimpf, Ronald Donald [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Boca Raton : CRC Press, c2009Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7871/D45.

Electrokinetics in microfluidics / Dongqing Li

por Li, Dongqing, 1956- [autor].

Series Interface science and technology ; v. 2Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción ; Audiencia: Especializado; Editor: Oxford : Academic, 2004Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC625/L52.

Future trends in microelectronics : the nano millennium / edited by Serge Luryi, Jimmy Xu, Alex Zaslavsky

por Luryi, Serge [editor] | Xu, Jimmy [editor] | Zaslavsky, Alexander [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: New York : IEEE, Wiley-Interscience, c2002Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7874/F87.

Handbook of microcircuit design and application / David f. stout ; edited by Milton kaufman

por Stout, David F [autor] | Kaufman, Milton.

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : McGraw-Hill, c1980Disponibilidad: No disponible para préstamo a domicilio:Libros: Préstamo en sala (1).

The handbook of nanotechnology : business, policy, and intellectual property law / John C. Miller ... [y otros.] ; with an editorial contribution by Mark Graffagnini

por Miller, John C [colaborador] | Graffagnini, Mark [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Hoboken, New Jersey : John Wiley & Sons, c2005Disponibilidad: No disponible para préstamo a domicilio:Libros: Préstamo en sala (1).

Handbook of zinc oxide and related materials / editor, Zhe Chuan Feng

por Feng, Zhe Chuan [editor].

Series Electronic materials and devices seriesTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Boca Raton : CRC Press, 2013-Disponibilidad: No disponible para préstamo a domicilio:Libros: Préstamo en sala (2).

Infrared characterization for microelectronics / W. S. Lauia

por Lau, W. S [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Singapore : World Scientific, c1999Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7871/L38.

Integrated smart micro-systems towards personalized healthcare / Yu Song, Wei Gao, Haixia Zhang

por Song, Yu [autor] | Gao, Wei [autor] | Zhang, Haixia [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Weinheim, Germany : Wiley-VCH, [2022]Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: R855.3/S65.

Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena Título de la Revista: Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena

por American Vacuum Society.

Tipo de material: Recurso continuo Recurso continuo; Formato: impresión grande ; Tipo de descriptor de recurso continuo: periódico Idioma: Inglés Editor: New York, N.Y. : American Institute of Physics, 1991-Otro título: Journal of vacuum science and technology. B, Microelectronics and nanometer structures | Microelectronics and nanometer structures | JVSTB (New York, N.Y.).Disponibilidad: No disponible para préstamo a domicilio:Revistas: Préstamo en sala (92).

Materials reliability in microelectronics III/ ed. Kenneth P. Rodbell ... [y otros.]

por Roedbell, Kenneth P [editor] | Materials Research Society.

Series Materials research society symposium proceedings ; 309Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Pittsburg, Pennsylvania : Materials Research Society, c1993Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7874/M369 1993 VOL. 309.

Materials reliability in microelectronics IV / ed. Peter Borgesen ... [y otros.]

por Borgesen, Peter [editor] | Materials Research Society.

Series Materials research society symposium proceedings ; 338Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Pittsburgh, Pennsylvania : Materials Research Society, 1994Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7874/M369 1994 VOL. 338.

Materials reliability in microelectronics V / ed. Anthony S. Oates... [y otros.]

por Oates, Anthony S [editor] | Materials Research Society.

Series Materials research society symposium proceedings ; 391Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Pittsburgh, Pennsylvania : Materials Research Society, c1995Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7874/M369 1995 Vol. 391.

Materials science in microelectronics / E.S. Machlin

por Machlin, E. S [editor].

Edición: 2nd ed.Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Amsterdam : Elsevier, 2005-Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: TK7871.15.F5/M37 2005 Pt. 2, ...

Materials science of microelectromechanical systems (MEMS) devices / editors, Arthur H. Heuer, S. Joshua Jacobs

por Heuer, Arthur Harold, 1936- [editor] | Jacobs, S. Joshua [editor] | Materials Research Society.

Series Materials research society symposium proceedings ; 546Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Warrendale, Pa. : Materials Research Society, c1999Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7875/M37 Vol. 546.

Materials science of microelectromechanical systems (MEMS) devices IV : symposium held November 25-28, 2001, Boston, Massachusetts, U. S. A. / editors, Arturo A. Ayon ... [y otros.]

por Ayon, Arturo A [editor].

Series Materials research society symposium proceedings ; 687Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Warrendale, Pennsylvania : Materials Research Society, c2002Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7875/M37 2002 VOL. 687.

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