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		Atomic force microscopy (AFM) : principles, modes of operation and limitations / Hongshun Yang, editor por Yang, Hongshun [editor de la compilación]. Series Chemistry research and applicationTipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Hauppauge, New York : Nova Science Publishers, [2014]Fecha de copyright: ©2014Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.S32/A86. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Filler-reinforced elastomers scanning force microscopy / with contributions by B. Cappella ... [y otros.] por Cappella, B [colaborador]. Series Advances in polymer science ; 164Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Berlin : Springer Verlag, c2003Otro título: Scanning force microscopy.Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.S32/F55 Vol. 164. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Scanning force microscopy : With applications to electric, magnetic, and atomic forces / Dror sarid por Sarid, Dror [autor] \| University of Oxford. Series Oxford series in optical and imaging sciences ; 5Edición: # rev. edTipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Oxford University Press, 1994Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.S32/S37 1994. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)