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		Aberration-corrected imaging in transmission electron microscopy : an introduction / Rolf Erni por Erni, Rolf [autor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: London : Singapore : ICP/Imperial College Press ; World Scientific Publishing, c2010Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.T7/E76. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Apuntes para el curso : difraccion en la microscopia electronica de transmision / por Miguel Avalos Borja y Amir Maldonado ; editores Jose Luis Boldu Olaizola, J. Gerardo Cabañas Moreno por Ávalos Borja, Miguel, 1950- [autor] \| Maldonado, Amir [autor] \| Boldú, José Luis [editor] \| Cabañas-Moreno, J. G. (José Gerardo) [editor]. Series Sociedad mexicana de cristalografiaTipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: México : Sociedad Mexicana de Cristalografia, 2001Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.T7/A83. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Biological electron microscopy : Theory, techniques, and troubleshooting / Michael j. dykstra por Dykstra, Michael J [autor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Plenum, c1992Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4/D95. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Energy-filtering transmission electron microscopy / Ludwig Reimer, ed. ; with contributions by C. Deininger ... [y otros.] por Reimer, Ludwig, 1928- [editor]. Series Springer series in optical sciences ; 71Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Berlin ; New York : Springer Verlag, c1995Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.T7/E54 1995 Vol. 71. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Fundamentals of high-resolution transmission electron microscopy / S. Horiuchi por Horiuchi, S [autor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Amsterdam : North-holland, 1994Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.T7/F85. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		High-resolution electron microscopy / John C. H. Spence por Spence, John C. H [autor] \| Spence, John C. H. Experimental high-resolution electron microscopy. Series Monographs on the physics and chemistry of materials ; 60Edición: 3rd ed.Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Oxford : Oxford University Press, 2003Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.T7/S64 2003 Vol. 60. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		High-resolution imaging and spectrometry of materials / F. Ernst, M. Ruhle, eds. por Ruhle, Manfred [editor] \| Ernst, Frank, 1938- [editor]. Series Springer series in materials science ; 50Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Berlin : Springer Verlag, c2003Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23/H53 Vol. 50. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		An Introduction to Scanning Transmission Electron Microscopy / Robert J. Keyse ... [y otros.] por Keyse, Robert J [colaborador]. Series Microscopy handbooksTipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: New York : Springer Verlag, 1998Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.S34/I57. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Material characterization using electron holography / Daisuke Shindo, Takeshi Tomita por Shindō, D. (Daisuke), 1953- [autor] \| Tomita, Takeshi [autor]. Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción Editor: Weinheim, Germany : Wiley-VCH, [2023]Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC449.3/S45. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Scanning and transmission electron microscopy : an introduction / Stanley L. Flegler, John W. Heckman, Jr., Karen L. Klomparens por Flegler, Stanley L [autor] \| Heckman, John William [autor] \| Klomparens, Karen L [autor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : W. H. Freeman, c1993Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.S3/F54. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Scanning transmission electron microscopy : advanced characterization methods for materials science applications / edited by Alina Bruma por Bruma, Alina [editor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Boca Raton : CRC Press, [2020]Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.S34/S325. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Transmission electron microscopy : a textbook for materials science / David B. Williams and C. Barry Carter por Williams, David Bernard, 1949- [autor] \| Carter, C. Barry [autor]. Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: New York : Plenum, 1996Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23/W55. No disponible para préstamo a domicilio:Libros: Préstamo en sala (8). Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Transmission electron microscopy : physics of image formation and microanalysis / Ludwig Reimer por Reimer, Ludwig, 1928- [autor]. Series Springer series in optical sciences ; 36Edición: 4th ed.Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Berlin : Springer Verlag, c1997Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.T7/R45 1997 Vol. 36. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Transmission electron microscopy : a textbook for materials science / David B. Williams and C. Barry Carter por Williams, David Bernard, 1949- [autor] \| Carter, C. Barry [autor]. Edición: 2nd ed.Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Springer Verlag, [2009]Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (4)Clasificación: TA417.23/W55 2009 Vol. 1, ... Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
		Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe por Fultz, Brent [autor] \| Howe, James M, 1955- [autor]. Edición: 3rd ed.Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Berlin : Springer Verlag, c2008Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23/F85 2008. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)

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