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Atlas of backscattering Kikuchi diffraction patterns / D.J. Dingley, K.Z. Baba-Kishi, V. Randle

por Dingley, David J [autor] | Baba-Kishi, Karim Z [autor] | Randle, V [autor] | Institute of Physics (Gran Bretaña).

Series Microscopy in materials science seriesTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Bristol, Englad : Institute of Physics, 1995Disponibilidad: No disponible para préstamo a domicilio:Libros: Préstamo en sala (1).

Biological electron microscopy : Theory, techniques, and troubleshooting / Michael j. dykstra

por Dykstra, Michael J [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Plenum, c1992Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4/D95.

Dynamic experiments in the electron microscope / E. P. Butler, K. F. Hale

por Butler, E. P [autor] | Hale, Kay F [autor].

Series Practical methods in electron microscopy ; 9Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Amsterdam : North-holland, 1981Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: QH212.E4/P7, ...

Electron beam testing technology / ed. by John T.L. Thong

por Thong, John T. L [editor].

Series MicrodevicesTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Plenum, c1993Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7871.85/E55.

Electron microscopes / J. a. swift

por Swift, John Alan [autor].

Series Laboratory instruments and techniques seriesTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: London : Kogan page ; new york : Barnes & Noble, 1970Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4/S85.

Electron microscopy of interfaces in metals and alloys / C. t. forwood, and l. m. clarebrough

por Forwood, C. T [autor] | Clarebrough, L. M [autor].

Series Electron microscopy in materials science seriesTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Philadelphia : A. Hilger, c1991Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: QC173.4.S94/F67, ...

Experimental high-resolution electron microscopy / John c. h. spence

por Spence, John C. H [autor].

Series Monographs on the physics and chemistry of materialsEdición: 2Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Oxford University Press, 1988Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.T7/S64 1988.

High-resolution transmission electron microscopy and associated techniques / Eds. Peter r. buseck, John m. cowley, leroy eyring

por Buseck, Peter R [editor] | Eyring, LeRoy [editor] | Cowley, John Maxwell, 1923- [editor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Oxford University Press, 1988Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: QH212.T7/H54, ...

Holographic microscopy of phase microscopic objects : theory and practice / Tatyana Tishko, Tishko Dmitry, Titar Vladimir

por Tishko, Tatyana [autor] | Tishko, Dmitry [autor] | Titar, Vladimir Petrovich [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Singapore : World Scientific Publishing Co., [2011]Fecha de copyright: ©2011 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH207/T57.

Materials problem solving with the transmission electron microscope / Ed. l. w. hobbs, k. w. westmacott, d. g. Williams

por Hobbs, Linn W [editor] | Westmacott, Kenneth H [editor] | Williams, David Bernard, 1949- [editor] | Materials Research Society.

Series Materials research society symposia proceedings ; 62Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Pittsburgh, pennsylvania : Materials research society, c1986Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23/M37 VOL. 62.

The measurement of grain boundary geometry / V. Randle

por Randle, V [autor].

Series Electron microscopy in materials science seriesTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Bristol ; Philadelphia : Institute of Physics, c1993Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA460/R35 1993.

Microanalisys and scanning electron microscopy / ed. by F. Maurice, L. Meny and R. Tixier ; colaboración J. Henoc ... [y otros.]

por Maurice F [editor] | Meny, Lucienne [editor] | Tixier, R [editor] | Henoc, J [colaborador].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: France : Physique, 1978Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.S3/M5313.

The operation and calibration of the electron microscope / J. W. Edington

por Edington, Jeffrey William [autor].

Series 7302 ; 1Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: London : Macmillan, c1974Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4/E36 Vol. 1.

Particle beam microanalysis : Fundamentals, methods and applications / E. fuchs, h. oppolzer, h. rehme

por Fuchs, Ekkehard [autor] | Oppolzer, Helmut [autor] | Rehme, H [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Weinheim : Vch, c1990Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TA417.23/F83.

Scanning and transmission electron microscopy : an introduction / Stanley L. Flegler, John W. Heckman, Jr., Karen L. Klomparens

por Flegler, Stanley L [autor] | Heckman, John William [autor] | Klomparens, Karen L [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : W. H. Freeman, c1993Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.S3/F54.

Scanning electron microscopy : physics of imagen formation and microanalysis / Ludwing Reimer

por Reimer, Ludwig, 1928- [autor].

Series Springer series in optical sciences ; 45Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Berlin : Springer Verlag, c1985Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.S3/R45 Vol. 45.

Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis : a text for biologists, materials scientists, and geologists / Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy, A. D. Romig, Charles E. Lyman, Charles Fiori, Eric Lifshin

por Goldstein, Joseph, nacimiento 1939 [autor].

Edición: 2nd ed.Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Plenum, c1992Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E9/S22 1992.

Scanning electron microscopy in taxonomy y and functional morphology / Ed. by d. claugher

por Claugher, D [editor] | Systematics Association.

Series The systematics association special volume ; 41Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Oxford : Published for the systematics association by clarendon, 1990Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH83/S355.

Secondary electron energy spectroscopy in the scanning electron microscope / Anjam Khursheed

por Khursheed, Anjam [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Singapore : World Scientific Publishing, [2021]Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.S3/K486.

Thin fosil preparation for electron microscopy / P. J. Goodhew ; edited by Audrey M. Glavert

por Goodhem, P. J [autor] | Glavert, Audrey M [editor].

Series Practical methods in electron microscophy ; 11Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Amsterdam : Elsevier, 1985Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QH212.E4/G67.

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