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_aQC482.D5 _bP43 2009 |
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| 082 | 0 | 0 |
_a548/.83 _222 |
| 084 | _aGeneral | ||
| 100 | 1 |
_aPecharsky, Vitalij K., _eautor |
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| 245 | 1 | 0 |
_aFundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials / _cby Vitalij K. Pecharsky, Peter Y. Zavalij |
| 250 | _a2nd ed. | ||
| 264 | 1 |
_aNew York, New York : _bSpringer Verlag, _cc2009 |
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| 300 | _axxiii, 741 páginas | ||
| 650 | 4 |
_aRayos X _xDifracción _xMedición |
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| 650 | 4 |
_aPolvos _xPropiedades ópticas _xMedición |
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| 650 | 4 | _aCristalografía por rayos X | |
| 700 | 1 |
_aZavalij, Peter Y., _eautor |
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| 336 |
_atexto _2rdacontent |
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| 337 |
_asin medio _2rdamedia |
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| 338 |
_avolumen _2rdacarrier |
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| 999 |
_c14039 _d14039 |
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