| 000 | 00682nam-a2200181-a-4500 | ||
|---|---|---|---|
| 008 | 231130s2004 mx a|||||||||||||||||||spa d | ||
| 035 | _aTIM01000500276 | ||
| 041 | _aSPA | ||
| 090 | _aGarc/2004 | ||
| 100 | _aGarcia Chavarria, Sabit Karina | ||
| 245 | _aCaracterizacion morfologica de peliculas de GaAs(N) por microscopia de fuerza atomica | ||
| 260 |
_aMexico : _bEl autor, _c2004 |
||
| 300 |
_a69 p. : _bil. |
||
| 502 | _aTesis Maestria (Maestro en Ciencia e Ingenieria de Materiales)-UNAM, Posgrado en Ciencia e Ingenieria de Materiales | ||
| 700 |
_aAlvarez Fregoso, Octavio, _easesor |
||
| 710 |
_aUniversidad Nacional Autonoma de Mexico. _bPosgrado en Ciencia e Ingenieria de Materiales |
||
| 999 |
_c18714 _d18714 |
||