| 000 | 00819nam a2200205 a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 035 | _aTIM01000500440 | ||
| 041 | _aSPA | ||
| 090 | _aGarc/2007 | ||
| 100 | _aGarcia Rivera, Jose | ||
| 245 | 0 | _aCaracterizacion termica y termoelectronica de obleas de silicio implantado con boro mediante radiometria de fotoportadores. | |
| 260 |
_aMexico : _bEl autor, _c2007. |
||
| 300 |
_a148 p. : _bil. |
||
| 502 | _aTesis Maestria (Maestro en Ciencia e Ingenieria de Materiales)-UNAM, Posgrado en Ciencia e Ingenieria de Materiales | ||
| 700 |
_aRodriguez Garcia, Mario E., _easesor |
||
| 710 |
_aUniversidad Nacional Autonoma de Mexico _bPosgrado en Ciencia e Ingenieria de Materiales |
||
| 856 | 4 |
_uhttp://132.248.9.195/pd2008/0626163/Index.html _yAcceso texto completo |
|
| 999 |
_c18876 _d18876 |
||
| 008 | 231130s2007 mx a|||||||||||||||||||spa d | ||