000 | 00794nam a2200205 a 4500 | ||
---|---|---|---|
035 | _aTIM01000501432 | ||
041 | _aSPA | ||
090 | _aAgui/2019 | ||
100 | _aAguilar Melo, Valentina | ||
245 | 0 | _aCaracterizacion de materiales in situ por difraccion y flourescencia de rayos X. | |
260 |
_aMexico : _bEl autor, _c2019. |
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300 |
_a114 p. : _bil. |
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502 | _aTesis Doctorado (Doctor en Ciencia e Ingenieria de Materiales)-UNAM, Posgrado en Ciencia e Ingenieria de Materiales | ||
700 |
_aRuvalcaba Sil, Jose Luis, _easesor |
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710 |
_aUniversidad Nacional Autonoma de Mexico. _bPosgrado en Ciencia e Ingenieria de Materiales |
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856 |
_uhttp://132.248.9.195/ptd2019/junio/0790310/Index.html _yAcceso texto completo |
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999 |
_c19868 _d19868 |
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008 | 231130s2019 mx a|||||||||||||||||||spa d |