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| 050 |
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| 084 | _aGeneral y Reserva | ||
| 100 | 0 |
_aZevin, Lev S., _eautor |
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| 245 | 1 | 0 |
_aQuantitative X-ray diffractometry / _cLev S. Zevin, Giora Kimmel ; ed. by Inez Mureinik |
| 264 | 1 |
_aNew York : _bSpringer Verlag, _c1995 |
|
| 300 | _a365 páginas | ||
| 650 |
_aRayos X _xDifracción |
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| 650 |
_aRayos X _xDifraccion _xAplicaciones industriales |
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| 700 |
_aKimmel, Giora _eautor |
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| 700 |
_aMureinik, Inez _eeditor |
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| 336 |
_atexto _2rdacontent |
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| 337 |
_asin medio _2rdamedia |
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| 338 |
_avolumen _2rdacarrier |
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| 999 |
_c7537 _d7537 |
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